某型空空導(dǎo)彈可靠性摸底試驗(yàn)規(guī)劃與驗(yàn)證
摘要：可靠性試驗(yàn)規(guī)劃是開(kāi)展可靠性試驗(yàn)的重要前提,對(duì)某型空空導(dǎo)彈在研制階段開(kāi)展的可靠性摸底試驗(yàn)進(jìn)行了規(guī)劃。規(guī)劃過(guò)程中充分地考慮了產(chǎn)品的實(shí)際特征,針對(duì)受試產(chǎn)品、試驗(yàn)條件等在型號(hào)研制中首次遇到的問(wèn)題進(jìn)行了分析和驗(yàn)證,提出了以全彈狀態(tài)開(kāi)展試驗(yàn)的方案,制定了更加合理的環(huán)境試驗(yàn)條件。最終順利地完成了本次試驗(yàn),為其他型號(hào)產(chǎn)品在研制過(guò)程中開(kāi)展可靠性試驗(yàn)提供了借鑒和參考。
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電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)雜志
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)雜志， 雙月刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅(jiān)持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：自動(dòng)化技術(shù)及設(shè)備、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、計(jì)量與測(cè)試技術(shù)、可靠性與環(huán)境適應(yīng)性理論研究、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)及評(píng)價(jià)、仿真建模與分析、軟件可靠性與評(píng)測(cè)技術(shù)、可靠性設(shè)計(jì)與工藝控制、電子、電路設(shè)計(jì)與應(yīng)用等等。于1980年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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