一種多提離值的金屬磁記憶檢測方法
作者：陳世利; 龐煜; 唐玉蓮; 黃新敬 天津大學(xué)精密儀器與光電子工程學(xué)院; 天津300072
摘要：金屬磁記憶檢測技術(shù)是一種新型的無損檢測技術(shù)，它利用金屬的磁記憶效應(yīng)來確定構(gòu)件的缺陷區(qū)域．檢測中由于一些構(gòu)件表面感應(yīng)磁場信號(hào)不平滑，存在與缺陷信號(hào)相似的磁場特征和梯度表現(xiàn)，容易造成漏判或誤判．為了區(qū)分這兩種信號(hào)，通過建立磁偶極子模型，分析了缺陷在材料表面或近表面的情況下檢測提離值對磁信號(hào)的影響，發(fā)現(xiàn)在提離值改變時(shí)感應(yīng)磁場和缺陷漏磁場存在不同的表現(xiàn)．根據(jù)這一現(xiàn)象，提出多提離值檢測方法進(jìn)行精確定位．通過對鋼板進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了該方法的有效性．
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納米技術(shù)與精密工程雜志
納米技術(shù)與精密工程雜志， 季刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅(jiān)持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：納米技術(shù)、微機(jī)電系統(tǒng)、精密加工、精密測量等。于2003年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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