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偏振比法的微小顆粒粒徑反演研究
作者：孔明; 沈海棟; 楊瑤; 曹麗霞; 郭天太 中國(guó)計(jì)量大學(xué)計(jì)量測(cè)試工程學(xué)院; 浙江杭州310018
摘要：在Mie散射理論的基礎(chǔ)上推導(dǎo)了偏振比法微納顆粒檢測(cè)理論.該理論避免了檢測(cè)光路中氣體組分對(duì)顆粒測(cè)量的影響,實(shí)現(xiàn)了微納顆粒的準(zhǔn)確測(cè)量.在檢測(cè)理論的基礎(chǔ)上建立了顆粒粒徑反演模型,并引入遺傳算法對(duì)偏振散射光信號(hào)進(jìn)行分析.通過(guò)MATLAB仿真研究,獲得偏振比法顆粒粒徑測(cè)量范圍為0.1-0.5μm.對(duì)服從R-R分布的均勻球形顆粒群進(jìn)行模擬仿真,通過(guò)加入隨機(jī)噪聲模擬實(shí)際測(cè)量時(shí)的外界干擾,根據(jù)反演結(jié)果對(duì)該方法的抗噪性和精度進(jìn)行了評(píng)測(cè)。
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中國(guó)計(jì)量學(xué)院學(xué)報(bào)雜志
中國(guó)計(jì)量學(xué)院學(xué)報(bào)雜志， 季刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅(jiān)持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：質(zhì)量檢驗(yàn)檢疫、光電子技術(shù)、生命科學(xué)、計(jì)算機(jī)科學(xué)、機(jī)電信息工程、管理科學(xué)、數(shù)學(xué)物理化學(xué)等基礎(chǔ)學(xué)科、與以上內(nèi)容有關(guān)的交叉邊緣學(xué)科等。于1990年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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