摘要：文章診斷含參二次函數(shù)問(wèn)題中的思維痛點(diǎn)癥狀:鏈接不同表達(dá)式間關(guān)系不暢、有限定義區(qū)間上分類不暢、絕對(duì)值結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)化不暢等,通過(guò)探究其產(chǎn)生之根源:二次函數(shù)直觀意識(shí)不強(qiáng)、三個(gè)二次轉(zhuǎn)化能力不夠、綜合問(wèn)題分解能力不牢,給出痛點(diǎn)解除的方法:抓“形態(tài)”促“代數(shù)”、抓“形式”促“結(jié)構(gòu)”、抓“分類”促“分解”.通過(guò)積累痛點(diǎn)解除的經(jīng)驗(yàn),提升含參二次函數(shù)問(wèn)題求解的成功率.