《Microelectronic Engineering》雜志好發(fā)表嗎？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:49:27 612人看過
《Microelectronic Engineering》雜志是一本專注于工程技術(shù)領(lǐng)域的期刊，發(fā)表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
《微電子工程》是首屈一指的納米加工和納米技術(shù)期刊，專注于電子、光子、生物電子、機(jī)電和流體設(shè)備和系統(tǒng)的制造，以及它們在電子、光子學(xué)、能源、生命科學(xué)和環(huán)境等廣泛領(lǐng)域的應(yīng)用。它還涵蓋了不斷擴(kuò)展的跨學(xué)科領(lǐng)域，即“超過摩爾”和“超越摩爾”集成納米電子學(xué)/光子學(xué)和微/納米/生物系統(tǒng)。通過其獨(dú)特的同行評審文章、評論、加速出版物、簡短和技術(shù)說明以及有關(guān)關(guān)鍵發(fā)展的最新研究新聞的混合，《微電子工程》為學(xué)術(shù)界研究人員和行業(yè)專業(yè)人士提供了對這一令人興奮、跨學(xué)科且充滿活力的新領(lǐng)域的全面報(bào)道。
發(fā)表難度
影響因子與分區(qū)：《Microelectronic Engineering》雜志的影響因子為2.6，屬于JCR分區(qū)Q2區(qū)，中科院分區(qū)中大類學(xué)科工程技術(shù)為4區(qū)， 小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為4區(qū)，較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力和認(rèn)可度，因此對稿件的質(zhì)量要求也相對較高，發(fā)表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 157 / 352 |
55.5% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
33.2% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 45 / 119 |
62.6% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 81 / 179 |
55% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 179 / 354 |
49.58% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 74 / 140 |
47.5% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q3 | 64 / 120 |
47.08% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 88 / 179 |
51.12% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫，Web of Science包括自然科學(xué)、社會科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
審稿周期預(yù)計(jì)：平均審稿速度 約6.0個月 ，審稿周期也體現(xiàn)了編輯部對稿件質(zhì)量的嚴(yán)格把關(guān)。
發(fā)表建議
提高稿件質(zhì)量：確保研究內(nèi)容具有創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)價值，語言表達(dá)清晰準(zhǔn)確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準(zhǔn)備：根據(jù)審稿周期，建議作者提前規(guī)劃好研究和寫作進(jìn)度，以便有足夠的時間進(jìn)行修改和補(bǔ)充。同時，可以關(guān)注《Microelectronic Engineering》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機(jī)會，發(fā)表的可能性會更大。
聲明：以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料，如有不準(zhǔn)確之處，請聯(lián)系我們進(jìn)行修改。
