《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》雜志的收稿范圍和要求是什么？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:58:33 522人看過
《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》雜志收稿范圍涵蓋計算機科學(xué)全領(lǐng)域，此刊是該細分領(lǐng)域中屬于非常不錯的SCI期刊，在行業(yè)細分領(lǐng)域中學(xué)術(shù)影響力較大，專業(yè)度認可很高，所以對原創(chuàng)文章要求創(chuàng)新性較高，如果您的文章質(zhì)量很高，可以嘗試。
平均審稿速度 一般,3-8周 ，影響因子指數(shù)2.7。
該期刊近期沒有被列入國際期刊預(yù)警名單，廣大學(xué)者值得一試。
具體收稿要求需聯(lián)系雜志社或者咨詢本站客服，在線客服團隊會及時為您答疑解惑，提供針對性的建議和解決方案。
出版商聯(lián)系方式：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
其他數(shù)據(jù)
| 是否OA開放訪問： | h-index： | 年文章數(shù)： |
| 未開放 | 107 | 413 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影響因子（數(shù)據(jù)來源于搜索引擎）: | 開源占比（OA被引用占比）： |
| 8.71% | 2.7 | 0.11... |
| 研究類文章占比：文章 ÷（文章 + 綜述） | 期刊收錄： | 中科院《國際期刊預(yù)警名單（試行）》名單： |
| 100.00% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子)：
歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量：
歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù)：
歷年自引數(shù)據(jù)：
發(fā)文統(tǒng)計
2023-2024國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計：
| 國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
| USA | 434 |
| CHINA MAINLAND | 291 |
| Taiwan | 74 |
| GERMANY (FED REP GER) | 67 |
| South Korea | 47 |
| India | 45 |
| France | 36 |
| Canada | 30 |
| England | 30 |
| Austria | 28 |
2023-2024機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計：
| 機構(gòu) | 數(shù)量 |
| UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM | 66 |
| TSINGHUA UNIVERSITY | 51 |
| DUKE UNIVERSITY | 47 |
| CHINESE UNIVERSITY OF HONG KONG | 37 |
| UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM | 37 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 36 |
| INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... | 34 |
| STATE UNIVERSITY SYSTEM OF FLORI... | 29 |
| NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY | 28 |
| PURDUE UNIVERSITY SYSTEM | 24 |
近年引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 426 |
| IEEE T VLSI SYST | 134 |
| IEEE T COMPUT | 106 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 68 |
| P IEEE | 55 |
| IEEE DES TEST | 52 |
| LAB CHIP | 47 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 44 |
| ACM T EMBED COMPUT S | 40 |
| IEEE T PARALL DISTR | 35 |
近年被引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 426 |
| IEEE T VLSI SYST | 259 |
| IEEE ACCESS | 255 |
| INTEGRATION | 140 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 95 |
| J CIRCUIT SYST COMP | 89 |
| IEEE T COMPUT | 78 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 69 |
| ACM T EMBED COMPUT S | 62 |
| J ELECTRON TEST | 62 |
近年文章引用統(tǒng)計：
| 文章名稱 | 數(shù)量 |
| Resource Management for Improvin... | 50 |
| Angel-Eye: A Complete Design Flo... | 42 |
| NeuroSim: A Circuit-Level Macro ... | 34 |
| QoS-Adaptive Approximate Real-Ti... | 28 |
| Adjusting Learning Rate of Memri... | 26 |
| YodaNN: An Architecture for Ultr... | 23 |
| The Promise and Challenge of Sto... | 20 |
| An Efficient Methodology for Map... | 18 |
| DeepThings: Distributed Adaptive... | 17 |
| Affinity-Driven Modeling and Sch... | 17 |
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