《Metrology And Measurement Systems》雜志是一本專注于工程技術(shù)領(lǐng)域的高質(zhì)量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Metrology And Measurement Systems》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發(fā)文量：《Metrology And Measurement Systems》雜志年發(fā)文量為：52篇。年發(fā)文量較大的期刊，相對(duì)而言錄用率會(huì)高一些。

質(zhì)量與創(chuàng)新性：論文的科學(xué)性、嚴(yán)謹(jǐn)性、數(shù)據(jù)可靠性以及創(chuàng)新性是關(guān)鍵。

期刊分區(qū)：《Metrology And Measurement Systems》雜志在中科院的分區(qū)為4區(qū)，而在JCR的分區(qū)為Q4。

論文質(zhì)量：包括研究設(shè)計(jì)的合理性、數(shù)據(jù)的可靠性、分析方法的科學(xué)性等。

影響力與排名：《Metrology And Measurement Systems》雜志IF影響因子為：1。高影響力的期刊通常對(duì)論文質(zhì)量要求更高，錄用率相對(duì)較低。

審稿流程：嚴(yán)格的多輪審稿流程會(huì)篩選掉部分稿件，導(dǎo)致錄用率下降。

投稿數(shù)量：在特定時(shí)期內(nèi)，若大量研究者集中向某期刊投稿，會(huì)導(dǎo)致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應(yīng)根據(jù)自身研究特點(diǎn)選擇合適的期刊，并確保稿件質(zhì)量以提高錄用機(jī)會(huì)，投稿前務(wù)必仔細(xì)閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Metrology And Measurement Systems》雜志簡(jiǎn)介

中文簡(jiǎn)稱：計(jì)量和測(cè)量系統(tǒng)
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)稱：METROL MEAS SYST
出版商：Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation
出版周期：Quarterly
出版年份：1988年
出版地區(qū)：Poland
ISSN：0860-8229
ESSN：2300-1941
研究方向：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION

歡迎對(duì)測(cè)量科學(xué)技術(shù)研究、開(kāi)發(fā)和應(yīng)用的各個(gè)方面進(jìn)行投稿。

涵蓋的主題包括：測(cè)量理論和一般原理；物理、化學(xué)和生物量的測(cè)量；醫(yī)學(xué)測(cè)量；傳感器和換能器；測(cè)量數(shù)據(jù)采集；測(cè)量信號(hào)傳輸；處理和數(shù)據(jù)分析；測(cè)量系統(tǒng)和嵌入式系統(tǒng)；儀器的設(shè)計(jì)、制造和評(píng)估。

平均出版周期為 6 個(gè)月。

在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科為工程技術(shù)4區(qū)， 小類學(xué)科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表4區(qū)。

聲明：以上內(nèi)容來(lái)源于互聯(lián)網(wǎng)公開(kāi)資料，如有不準(zhǔn)確之處，請(qǐng)聯(lián)系我們進(jìn)行修改。