《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志好發(fā)表嗎？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:58:34 478人看過
《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志是一本專注于工程技術領域的期刊，發(fā)表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設備、材料、工藝、接口、集成微系統(tǒng)（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應用。從概念階段到研發(fā)再到制造規(guī)模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產(chǎn)品推向市場提供了設備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數(shù)據(jù)庫。這個可靠性數(shù)據(jù)庫是滿足客戶期望的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品的基礎。這樣開發(fā)的產(chǎn)品具有高可靠性。高質(zhì)量將實現(xiàn)，因為產(chǎn)品弱點將被發(fā)現(xiàn)（根本原因分析）并在最終產(chǎn)品中設計出來。這個不斷提高可靠性和質(zhì)量的過程將產(chǎn)生卓越的產(chǎn)品。歸根結底，可靠性和質(zhì)量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產(chǎn)品在客戶條件下在現(xiàn)場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關注電子材料和設備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現(xiàn)象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇?？傮w目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產(chǎn)品的創(chuàng)造至關重要。
發(fā)表難度
影響因子與分區(qū)：《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志的影響因子為2.5，屬于JCR分區(qū)Q2區(qū)，中科院分區(qū)中大類學科工程技術為3區(qū)， 小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為3區(qū)，較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學術界具有較高的影響力和認可度，因此對稿件的質(zhì)量要求也相對較高，發(fā)表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 165 / 352 |
53.3% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 87 / 179 |
51.7% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 186 / 354 |
47.6% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 99 / 179 |
44.97% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學術信息的重要數(shù)據(jù)庫，Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息，來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學科領域劃分，根據(jù)這一學科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中，最后的劃分結果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
審稿周期預計：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，審稿周期也體現(xiàn)了編輯部對稿件質(zhì)量的嚴格把關。
發(fā)表建議
提高稿件質(zhì)量：確保研究內(nèi)容具有創(chuàng)新性和學術價值，語言表達清晰準確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準備：根據(jù)審稿周期，建議作者提前規(guī)劃好研究和寫作進度，以便有足夠的時間進行修改和補充。同時，可以關注《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機會，發(fā)表的可能性會更大。
聲明：以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料，如有不準確之處，請聯(lián)系我們進行修改。
