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首頁(yè) > SCI > Iet Computers And Digital Techniques雜志 > 雜志問(wèn)答 400-888-1571

《Iet Computers And Digital Techniques》雜志好發(fā)表嗎?

來(lái)源:優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:58:35 463人看過(guò)

《Iet Computers And Digital Techniques》雜志是一本專(zhuān)注于計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域的期刊,發(fā)表難度因多種因素而異,以下是具體分析:

IET 計(jì)算機(jī)與數(shù)字技術(shù)發(fā)表技術(shù)論文,介紹數(shù)字片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)和電子及嵌入式系統(tǒng)測(cè)試各個(gè)方面的最新研究和開(kāi)發(fā)工作,包括設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具(方法、算法和架構(gòu))的開(kāi)發(fā)。特別歡迎基于與 CMOS 技術(shù)縮小相關(guān)的問(wèn)題的論文。它面向計(jì)算機(jī)和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測(cè)試領(lǐng)域的研究人員、工程師和教育工作者。

感興趣的關(guān)鍵主題領(lǐng)域是:

設(shè)計(jì)方法和工具:CAD/EDA 工具、硬件描述語(yǔ)言、高級(jí)和架構(gòu)綜合、硬件/軟件協(xié)同設(shè)計(jì)、基于平臺(tái)的設(shè)計(jì)、3D 堆疊和電路設(shè)計(jì)、片上系統(tǒng)架構(gòu)和 IP 核、嵌入式系統(tǒng)、邏輯綜合、低功耗設(shè)計(jì)和功率優(yōu)化。

仿真、測(cè)試和驗(yàn)證:電氣和時(shí)序仿真、基于仿真的驗(yàn)證、硬件/軟件協(xié)同仿真和驗(yàn)證、混合域技術(shù)建模和仿真、硅后驗(yàn)證、功率分析和估算、互連建模和信號(hào)完整性分析、硬件信任和安全性、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、嵌入式核心測(cè)試、片上系統(tǒng)測(cè)試、在線(xiàn)測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試生成和延遲測(cè)試、低功耗測(cè)試、可靠性、故障建模和容錯(cuò)。

處理器和系統(tǒng)架構(gòu):多核系統(tǒng)、通用和專(zhuān)用處理器、DSP 應(yīng)用的計(jì)算算法、算術(shù)和邏輯單元、高速緩存、內(nèi)存管理、協(xié)處理器和加速器、片上系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)、嵌入式內(nèi)核、平臺(tái)、多處理器、分布式系統(tǒng)、通信協(xié)議和低功耗問(wèn)題。

可配置計(jì)算:嵌入式內(nèi)核、FPGA、快速原型設(shè)計(jì)、自適應(yīng)計(jì)算、可演化和靜態(tài)和動(dòng)態(tài)可重構(gòu)及可重新編程系統(tǒng)、可重構(gòu)硬件。

針對(duì)可變性、功耗和老化的設(shè)計(jì):針對(duì)可變性、功耗和老化感知設(shè)計(jì)、內(nèi)存、FPGA、IP 組件、3D 堆疊、能量收集的設(shè)計(jì)方法。

案例研究:新興應(yīng)用、工業(yè)設(shè)計(jì)中的應(yīng)用以及設(shè)計(jì)框架。

發(fā)表難度

影響因子與分區(qū):《Iet Computers And Digital Techniques》雜志的影響因子為1.1,屬于JCR分區(qū)Q3區(qū),中科院分區(qū)中大類(lèi)學(xué)科計(jì)算機(jī)科學(xué)為4區(qū), 小類(lèi)學(xué)科COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計(jì)算機(jī):硬件為4區(qū),較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力和認(rèn)可度,因此對(duì)稿件的質(zhì)量要求也相對(duì)較高,發(fā)表難度較大。

歷年IF值(影響因子):

WOS分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q4 52 / 59

12.7%

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q3 87 / 143

39.5%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q4 54 / 59

9.32%

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q4 115 / 143

19.93%

名詞解釋?zhuān)?br />WOS即Web of Science,是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫(kù),Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息,來(lái)自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分,根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中,最后的劃分結(jié)果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質(zhì)量最高。

審稿周期預(yù)計(jì):平均審稿速度 12周,或約稿 ,審稿周期也體現(xiàn)了編輯部對(duì)稿件質(zhì)量的嚴(yán)格把關(guān)。

發(fā)表建議

提高稿件質(zhì)量:確保研究?jī)?nèi)容具有創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)價(jià)值,語(yǔ)言表達(dá)清晰準(zhǔn)確,符合雜志計(jì)算機(jī):硬件的格式和要求。

提前準(zhǔn)備:根據(jù)審稿周期,建議作者提前規(guī)劃好研究和寫(xiě)作進(jìn)度,以便有足夠的時(shí)間進(jìn)行修改和補(bǔ)充。同時(shí),可以關(guān)注《Iet Computers And Digital Techniques》雜志的約稿信息,如果能夠獲得約稿機(jī)會(huì),發(fā)表的可能性會(huì)更大。

聲明:以上內(nèi)容來(lái)源于互聯(lián)網(wǎng)公開(kāi)資料,如有不準(zhǔn)確之處,請(qǐng)聯(lián)系我們進(jìn)行修改。

Iet Computers And Digital Techniques相關(guān)雜志

同小類(lèi)學(xué)科的其他優(yōu)質(zhì)期刊 影響因子 中科院分區(qū)
Journal Of Field Robotics 4.2 2區(qū)
Computer Networks 4.4 2區(qū)
Computer Science Review 13.3 1區(qū)
Journal Of Computational Science 3.1 3區(qū)
Neurocomputing 5.5 2區(qū)
Ict Express 4.1 3區(qū)