《Microelectronics Journal》雜志投稿后多久回復(fù)取決于雜志審稿速度：預(yù)計(jì) 約3.0個(gè)月 。投稿前請仔細(xì)閱讀相關(guān)投稿須知，有任何疑問可以聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Microelectronics Journal》雜志于1967年創(chuàng)刊，刊號為ISSN：0026-2692，EISSN：1879-2391，是一本專注于工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的SCIE期刊，出版周期為：Monthly，目前未開放OA（未開放訪問）。主要發(fā)表由專家撰寫的簡短且易于理解的文章，內(nèi)容精煉且具有較高的學(xué)術(shù)價(jià)值，特別適合那些希望快速了解某一特定研究方向最新進(jìn)展的讀者。

《微電子學(xué)雜志》自 1969 年創(chuàng)刊以來，是一個(gè)傳播微電子系統(tǒng)、電路和新興技術(shù)研究和應(yīng)用的國際論壇?！段㈦娮訉W(xué)雜志》上發(fā)表的論文都經(jīng)過同行評審，以確保其原創(chuàng)性、相關(guān)性和時(shí)效性。因此，該雜志提供了有關(guān)微電子電路和系統(tǒng)的全球定期全面更新。

《微電子學(xué)雜志》誠邀撰寫描述以下所有領(lǐng)域重要研究和應(yīng)用的論文。涵蓋最新發(fā)展的綜合評論/調(diào)查論文也將予以考慮?！段㈦娮訉W(xué)雜志》涵蓋電路和系統(tǒng)。該主題包括但不限于：模擬、數(shù)字、混合和射頻電路及相關(guān)設(shè)計(jì)方法；邏輯、架構(gòu)和系統(tǒng)級綜合；測試、可測試性設(shè)計(jì)、內(nèi)置自測試；面積、功率和熱分析與設(shè)計(jì)；混合域仿真與設(shè)計(jì)；嵌入式系統(tǒng)；非馮諾依曼計(jì)算及相關(guān)技術(shù)和電路；高復(fù)雜度系統(tǒng)集成的設(shè)計(jì)和測試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設(shè)計(jì)和測試；3-D 集成設(shè)計(jì)和分析；新興器件技術(shù)和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學(xué)、SFQ、MTJ 等。

也歡迎應(yīng)用方面，例如信號和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執(zhí)行器（包括傳感器網(wǎng)絡(luò)）、可靠性和質(zhì)量問題以及經(jīng)濟(jì)模型。

在收錄情況方面，《Microelectronics Journal》雜志在中科院最新升級版分區(qū)表中，該雜志分區(qū)信息為大類學(xué)科工程技術(shù)3區(qū)，影響因子為1.9，CiteScore為4，在工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的排名較為靠前，其 SJR為 0.39，SNIP為0.854，h-index指數(shù)為59，這些數(shù)據(jù)都反映出期刊在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力和學(xué)術(shù)價(jià)值。

投稿SCI期刊后收到回復(fù)的時(shí)間因多種因素而異，具體時(shí)間如下：

初審階段：編輯初審?fù)ǔＴ?-4周內(nèi)完成，主要檢查論文的格式、規(guī)范性以及是否符合期刊的基本要求。

同行評審階段：若論文通過初審，編輯會(huì)將其發(fā)送給多位同行評審人進(jìn)行詳細(xì)評估。這一階段是整個(gè)審稿過程中最耗時(shí)的部分，通常需要1-3個(gè)月。

終審階段：編輯在得到審稿人的反饋后，會(huì)根據(jù)審稿人的意見給出接收、小修、大修、拒稿等結(jié)果。這一階段的時(shí)間相對較短，通常在收到審稿意見后幾天到一周內(nèi)完成。

投稿者在選擇期刊時(shí)，應(yīng)考慮到審稿周期，并做好長期等待的準(zhǔn)備，同時(shí)也要注意不同期刊的具體要求和效率可能大相徑庭。

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