《Microelectronics Journal》雜志好發(fā)表嗎？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:49:27 1011人看過
《Microelectronics Journal》雜志是一本專注于工程技術(shù)領(lǐng)域的期刊，發(fā)表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
《微電子學(xué)雜志》自 1969 年創(chuàng)刊以來，是一個(gè)傳播微電子系統(tǒng)、電路和新興技術(shù)研究和應(yīng)用的國際論壇?！段㈦娮訉W(xué)雜志》上發(fā)表的論文都經(jīng)過同行評審，以確保其原創(chuàng)性、相關(guān)性和時(shí)效性。因此，該雜志提供了有關(guān)微電子電路和系統(tǒng)的全球定期全面更新。
《微電子學(xué)雜志》誠邀撰寫描述以下所有領(lǐng)域重要研究和應(yīng)用的論文。涵蓋最新發(fā)展的綜合評論/調(diào)查論文也將予以考慮。《微電子學(xué)雜志》涵蓋電路和系統(tǒng)。該主題包括但不限于：模擬、數(shù)字、混合和射頻電路及相關(guān)設(shè)計(jì)方法；邏輯、架構(gòu)和系統(tǒng)級(jí)綜合；測試、可測試性設(shè)計(jì)、內(nèi)置自測試；面積、功率和熱分析與設(shè)計(jì)；混合域仿真與設(shè)計(jì)；嵌入式系統(tǒng)；非馮諾依曼計(jì)算及相關(guān)技術(shù)和電路；高復(fù)雜度系統(tǒng)集成的設(shè)計(jì)和測試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設(shè)計(jì)和測試；3-D 集成設(shè)計(jì)和分析；新興器件技術(shù)和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學(xué)、SFQ、MTJ 等。
也歡迎應(yīng)用方面，例如信號(hào)和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執(zhí)行器（包括傳感器網(wǎng)絡(luò)）、可靠性和質(zhì)量問題以及經(jīng)濟(jì)模型。
發(fā)表難度
影響因子與分區(qū)：《Microelectronics Journal》雜志的影響因子為1.9，屬于JCR分區(qū)Q3區(qū)，中科院分區(qū)中大類學(xué)科工程技術(shù)為3區(qū)， 小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為3區(qū)，較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力和認(rèn)可度，因此對稿件的質(zhì)量要求也相對較高，發(fā)表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 110 / 140 |
21.8% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 238 / 354 |
32.91% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
33.21% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫，Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
審稿周期預(yù)計(jì)：平均審稿速度 約3.0個(gè)月 ，審稿周期也體現(xiàn)了編輯部對稿件質(zhì)量的嚴(yán)格把關(guān)。
發(fā)表建議
提高稿件質(zhì)量：確保研究內(nèi)容具有創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)價(jià)值，語言表達(dá)清晰準(zhǔn)確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準(zhǔn)備：根據(jù)審稿周期，建議作者提前規(guī)劃好研究和寫作進(jìn)度，以便有足夠的時(shí)間進(jìn)行修改和補(bǔ)充。同時(shí)，可以關(guān)注《Microelectronics Journal》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機(jī)會(huì)，發(fā)表的可能性會(huì)更大。
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